含硅納米線芯片能無創(chuàng)診斷胎盤疾病 相關(guān)研究發(fā)表在《自然·通訊》雜志

據(jù)英國《自然·通訊》雜志3日發(fā)表的一篇醫(yī)學(xué)研究論文，中美科學(xué)家對一種名為“NanoVelcro”的芯片進(jìn)行了大幅優(yōu)化，新芯片包含很細(xì)的硅納米線，可針對胎盤植入譜系(PAS)疾病進(jìn)行無創(chuàng)早期診斷，這種疾病會導(dǎo)致孕產(chǎn)婦在分娩中死亡。

胎盤植入譜系疾病包括侵入性胎盤、植入性胎盤、穿透性胎盤，具體是指妊娠期間胎盤過度侵入子宮肌層，且在分娩時無法脫落。這會造成嚴(yán)重出血，甚至有時會導(dǎo)致孕產(chǎn)婦死亡。目前診斷該疾病的方法雖然也很有效，但有時依然會出現(xiàn)不夠準(zhǔn)確的情況，抑或是在資源匱乏的地區(qū)難以實(shí)現(xiàn)。

此次，包括美國加州大學(xué)洛杉磯分校、中國深圳人民醫(yī)院等機(jī)構(gòu)研究人員在內(nèi)的團(tuán)隊(duì)，對之前開發(fā)的“NanoVelcro”芯片進(jìn)行了優(yōu)化，新芯片包含很細(xì)的硅納米線，外部涂有能檢測循環(huán)滋養(yǎng)層細(xì)胞(組成胎盤的細(xì)胞)的抗體。這些細(xì)胞會在胎盤發(fā)育過程中單個或聚集脫落到母體血液循環(huán)中，細(xì)胞數(shù)量的增加可能提示胎盤植入譜系疾病。

研究團(tuán)隊(duì)對168位孕婦進(jìn)行了血檢，有些孕婦被診斷出患有胎盤植入譜系疾病，有些被診斷為胎盤前置(胎盤覆蓋宮頸內(nèi)口)，有些胎盤形成正常。團(tuán)隊(duì)發(fā)現(xiàn)，PAS組的單個和聚集循環(huán)滋養(yǎng)層細(xì)胞計數(shù)比其他兩個組更高。同時，研究還發(fā)現(xiàn)，單個和聚集循環(huán)滋養(yǎng)層細(xì)胞的數(shù)量，有助于在妊娠早期將PAS從前置胎盤和正常胎盤中區(qū)分出來。

研究人員指出，現(xiàn)在需利用更大樣本開展進(jìn)一步研究。胎盤植入譜系疾病會導(dǎo)致孕產(chǎn)婦在分娩中出現(xiàn)非常嚴(yán)重的狀況，而這種新的診斷技術(shù)則有望在不久的將來補(bǔ)充現(xiàn)有技術(shù)，提高妊娠早期診斷胎盤植入譜系疾病的準(zhǔn)確性。